1.失效現(xiàn)象：

樣品為4PCS USB殼，外觀照片見圖1，樣品提供方反映這些USB金屬殼表面生銹，需分析USB鐵殼生銹的原因。

圖1 樣品外觀照片

2.分析過程

2.1外觀檢查

目測USB殼外觀，發(fā)現(xiàn)外被覆有透明塑膠層的USB金屬殼表面呈現(xiàn)紅色銹斑（見圖2），而暴露在外面的未被覆透明塑膠層的USB表面則較清潔，呈現(xiàn)金屬光澤（見圖3）。

2.2 SEM觀察和ESD分析

分別對USB殼銹蝕部位（殼體及尾部）及正常USB殼表面進(jìn)行SEM&ESD分析，結(jié)果顯示，USB殼銹蝕部位均檢出碳（C）氧（O）鐵（Fe）鎳（Ni）元素及高含量的強(qiáng)腐蝕性的硫（S）氯（Cl）元素，同時(shí)還檢出較高含量的錫（Sn）元素；正常USB殼表面僅檢出鐵（Fe）鎳（Ni）元素。

2.3紅外光譜分析（FT-IR）

按GB/T 6040-2002的方法，取適量USB殼外被覆塑膠，將其置于紅外顯微鏡下進(jìn)行紅外光譜分析，檢測結(jié)果顯示USB殼外被覆塑膠材質(zhì)為聚氯乙烯（PVC）。

3分析結(jié)論

1）USB殼在氯（Cl）硫（S）錫（Sn）元素 氧（O2）及水（H2O）等的作用下發(fā)生腐蝕，同時(shí)USB殼的表面鍍層存在針孔 裂紋等缺陷也會加速USB殼的腐蝕。

2）腐蝕性的氯（Cl）硫（S）元素及雜質(zhì)錫（Sn）元素可能來源于USB產(chǎn)品生產(chǎn)工藝中的過程污染，其中氯（Cl）元素也有可能來源于其外被覆PVC塑膠層的降解。