一、晶粒度概述

一般情況下測定平均晶粒度有三種基本方法：比較法、面積法、截點(diǎn)法。具體如下

1、比較法：比較法不需計(jì)算晶粒、截矩。與標(biāo)準(zhǔn)系列評級圖進(jìn)行比較，用比較法評估晶粒度時(shí)一般存在一定的偏差(±0.5級)。評估值的重現(xiàn)性與再現(xiàn)性通常為±1級。

2、面積法：面積法是計(jì)算已知面積內(nèi)晶粒個(gè)數(shù)，利用單位面積晶粒數(shù)來確定晶粒度級別數(shù)。該方法的精確度中所計(jì)算晶粒度的函數(shù)，通過合理計(jì)數(shù)可實(shí)現(xiàn)±0.25級的精確度。面積法的測定結(jié)果是無偏差的，重現(xiàn)性小于±0. 5級。面積法的晶粒度關(guān)鍵在于晶粒界面明顯劃分晶粒的計(jì)數(shù)

3、截點(diǎn)法：截點(diǎn)數(shù)是計(jì)算已知長度的試驗(yàn)線段（或網(wǎng)格）與晶粒界面相交截部分的截點(diǎn)數(shù)，利用單位長度截點(diǎn)數(shù)  來確定晶粒度級別數(shù)。截點(diǎn)法的精確度是計(jì)算的截點(diǎn)數(shù)或截距的函數(shù)，通過有效的統(tǒng)計(jì)結(jié)果可達(dá)到 ±0.25級的精確度。截點(diǎn)法的測量結(jié)果是無偏差的，重現(xiàn)性和再現(xiàn)性小于±0.5級。對同一精度水平，截點(diǎn)法由于不需要精確標(biāo)計(jì)截點(diǎn)或截距數(shù)，因而較面積法測量快。

以上只是大致的測定方法太過籠統(tǒng)，如果真的拿到一個(gè)具體的微觀照片，我們該怎么做呢？下面我們來看一下具體操作與計(jì)算方法。

1、確定照片的放大率

先測量微觀照片的尺寸，長度或?qū)挾冗x擇其一，然后測量出試樣的實(shí)際長度或者寬度

放大率=圖片距離/實(shí)際距離

2、找出晶粒度級別數(shù)

計(jì)算出放大率之后就可以確定晶粒度級別數(shù)。首先要計(jì)算出試樣中的晶粒數(shù)。

晶粒數(shù)=完整的晶粒數(shù)+0.5倍的部分晶粒。完整晶粒的晶界都是可觀察到的。

其次計(jì)算出實(shí)際面積，實(shí)際面積=圖片長/放大率 x 寬/放大率

根據(jù)ASTM標(biāo)準(zhǔn)中的計(jì)算公式：N=2（n-1）其中N是指放大100倍下每平方英寸的晶粒數(shù)，n是指晶粒級別數(shù)。進(jìn)行單位換算之后可得到N的值。最后可計(jì)算出晶粒級別數(shù)n。

3、計(jì)算出平均晶粒直徑

平均晶粒直徑=試樣的實(shí)際長度/截取部分的晶粒數(shù)

實(shí)際長度=截線長度/放大率