電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件、 半導(dǎo)體分立器件、微電子器件中密封性試驗(yàn)檢測(cè)

• 樣品名稱：電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件、 半導(dǎo)體分立器件、微電子器件

• 檢測(cè)項(xiàng)目：密封性試驗(yàn)

• 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

• 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法 方法1010.1 溫度循環(huán) GJB548B-2005

• 所屬行業(yè)分類：電子電氣 > 環(huán)境試驗(yàn) >

• 標(biāo)簽： 密封性試驗(yàn) 電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件、 半導(dǎo)體分立器件、微電子器件