北京銀聯金卡科技有限公司/銀行卡檢測中心

檢測項：USBKey芯片的安全性 檢測樣品：USB KEY 安 全 標準：

機構所在地：北京市 更多相關信息>>

國家信息技術安全研究中心信息安全特種技術檢測實驗室

檢測項：智能卡芯片獨立性測試 檢測樣品：智能卡 標準：GB/T 20276-2006《信息安全技術 具有中央處理器的集成電路（IC）卡芯片安全技術要求（評估保證級4增強級）》

檢測項：系統審計保護級 檢測樣品：智能卡 標準：GB/T 20276-2006《信息安全技術 具有中央處理器的集成電路（IC）卡芯片安全技術要求（評估保證級4增強級）》

檢測項：安全標記保護級 檢測樣品：智能卡 標準：GB/T 20276-2006《信息安全技術 具有中央處理器的集成電路（IC）卡芯片安全技術要求（評估保證級4增強級）》

機構所在地：北京市 更多相關信息>>

中國科學院半導體研究所元器件檢測中心

檢測項：芯片粘附強度 檢測樣品：電工電子產品、軍用設備、電子及電氣元件、 半導體分立器件、微電子器件 標準：半導體分立器件試驗方法 方法2017 芯片粘附強度試驗 GJB128A-1997

檢測項：芯片粘附強度 檢測樣品：電工電子產品、軍用設備、電子及電氣元件、 半導體分立器件、微電子器件 標準：微電子器件試驗方法 方法2019.2芯片剪切強度 GJB548B-2005

機構所在地：北京市 更多相關信息>>

公安部第三研究所安全防范與信息安全產品及系統檢驗實驗室

檢測項：全部項目** 檢測樣品：具有中央處理器的集成電路（IC）卡芯片 標準：《信息安全技術 具有中央處理器的集成電路（IC）卡芯片安全技術要求》 GB/T 22186-2008

機構所在地：上海市 更多相關信息>>

佛山市香港科技大學LED-FPD工程技術研究開發中心實驗室

檢測項：芯片剪切強度 檢測樣品：LED灌封膠/PPA 標準：芯片剪切強度測試 MIL-STD-883H Method 2019.8

機構所在地：廣東省佛山市 更多相關信息>>

華北計算技術研究所計算機測評中心

檢測項：安全告警 檢測樣品：安全集成電路(IC)卡芯片 標準：信息安全技術 具有中央處理器的集成電路(IC)卡芯片安全技術要求(評估保證級4增強級) GB/T 22186-2008

檢測項：潛在侵害分析 檢測樣品：安全集成電路(IC)卡芯片 標準：信息安全技術 具有中央處理器的集成電路(IC)卡芯片安全技術要求(評估保證級4增強級) GB/T 22186-2008

檢測項：密碼運算 檢測樣品：安全集成電路(IC)卡芯片 標準：信息安全技術 具有中央處理器的集成電路(IC)卡芯片安全技術要求(評估保證級4增強級) GB/T 22186-2008

機構所在地：北京市 更多相關信息>>

北京博奧晶典生物技術有限公司生物檢測實驗室

檢測項：基因在mRNA水平表達豐度的相對量檢測 檢測樣品：生物體（包括組織及體外培養物） 標準：博奧表達譜芯片平臺的基因表達譜芯片檢測方法，EXPR-CBC-02。（Patterson, T.A., et al., Performance comparison of one-color and two-colorplatforms within th

檢測項：基因在mRNA水平表達豐度的相對量檢測 檢測樣品：生物體（包括組織及體外培養物） 標準：Affymetrix GeneChip Expression 平臺的基因表達譜芯片檢測方法，EXPR-AFFX-01。(Shi, L., et al., The MicroArray Quality Control (MAQC) project shows

機構所在地：北京市 更多相關信息>>

中國航空綜合技術研究所航空綜合環境航空科技重點實驗室

檢測項：芯片粘附強度 檢測樣品：電子元器件 標準：GJB548B-2005《 微電子器件試驗方法和程序》

機構所在地：北京市 更多相關信息>>

中國物品編碼中心自動識別技術檢驗實驗室

檢測項：標簽數據 檢測樣品：射頻識別標簽芯片 標準：EPCglobal標準：EPCglobal標簽數據標準，第1.5版

檢測項：協議參數 檢測樣品：射頻識別標簽芯片 標準：EPCglobal標準：EPC射頻識別協議——1類2代超高頻射頻識別——一致性要求，第1.0.5版

檢測項：工作過程描述 檢測樣品：射頻識別標簽芯片 標準：EPCglobal標準：EPC射頻識別協議——1類2代超高頻射頻識別——一致性要求，第1.0.5版

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貴州航天計量測試技術研究所

檢測項：芯片粘附強度 檢測樣品：半導體分立器件 標準：《半導體分立器件試驗方法》GJB128A-1997

檢測項：芯片目檢（半導體二極管） 檢測樣品：半導體分立器件 標準：《半導體分立器件試驗方法》GJB128A-1997

檢測項：芯片剪切強度 檢測樣品：微電子器件 標準：《微電子器件試驗方法和程序》GJB548B-2005

機構所在地：貴州省貴陽市 更多相關信息>>