中國(guó)測(cè)試技術(shù)研究院

檢測(cè)項(xiàng)：電子單元輸入共模抑制比 檢測(cè)樣品：熔點(diǎn)儀 標(biāo)準(zhǔn)：《熔點(diǎn)測(cè)定儀》 JB/T 6177-1992

檢測(cè)項(xiàng)：電子單元輸入共模抑制比 檢測(cè)樣品：熔點(diǎn)儀 標(biāo)準(zhǔn)：《熔點(diǎn)測(cè)定儀》 JB/T 6177-1992

檢測(cè)項(xiàng)：長(zhǎng)度 檢測(cè)樣品：建筑物通信光纖布線系統(tǒng)（單模、多模） 標(biāo)準(zhǔn)：綜合布線系統(tǒng)工程驗(yàn)收規(guī)范 GB 50312-2007

機(jī)構(gòu)所在地：四川省成都市 更多相關(guān)信息>>

上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司檢測(cè)中心

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比 檢測(cè)樣品：時(shí)基電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測(cè)試方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比 檢測(cè)樣品：CMOS集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 GB/T 17940-2000

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比 檢測(cè)樣品：RF器件 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 GB/T 17940-2000

機(jī)構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十四研究所檢測(cè)/試驗(yàn)中心

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比 檢測(cè)樣品：電壓比較器 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10805-2000半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測(cè)試方法的基本原理

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比 檢測(cè)樣品：運(yùn)算放大器 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10738-1996半導(dǎo)體集成電路運(yùn)算（電壓）放大器測(cè)試方法的基本原理

檢測(cè)項(xiàng)：電源電壓抑制比 檢測(cè)樣品：CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：GJB548B--2005微電子器件試驗(yàn)方法和程序第4.5節(jié)方法5005.2

機(jī)構(gòu)所在地：江蘇省南京市 更多相關(guān)信息>>

國(guó)營(yíng)長(zhǎng)風(fēng)機(jī)器廠環(huán)境試驗(yàn)檢測(cè)計(jì)量中心

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比 檢測(cè)樣品：數(shù)字集成 電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/10741-2000

檢測(cè)項(xiàng)：電源電壓抑制比 檢測(cè)樣品：數(shù)字集成 電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/10741-2000

檢測(cè)項(xiàng)：共發(fā)射正向電流傳輸比 檢測(cè)樣品：雙極型 晶體管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件分立器第7部分雙極型晶體管 GB/T4587-1994

機(jī)構(gòu)所在地：甘肅省蘭州市 更多相關(guān)信息>>

成都凱天電子股份有限公司實(shí)驗(yàn)中心

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比 檢測(cè)樣品：電壓比較器 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測(cè)試方法的基本原理GB/T6798-1996

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比 檢測(cè)樣品：二極管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 分立器件 第3部分:信號(hào)(包括開(kāi)關(guān))和調(diào)整二極管GB/T6571-1995 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路 第2部分：整流二極管 GB/T4023-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法GJB128A-1997

檢測(cè)項(xiàng)：電源電壓 抑制比 檢測(cè)樣品：電壓比較器 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測(cè)試方法的基本原理GB/T6798-1996

機(jī)構(gòu)所在地：四川省成都市 更多相關(guān)信息>>

武漢中原電子集團(tuán)有限公司計(jì)量檢測(cè)中心

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比 檢測(cè)樣品：運(yùn)算放大器 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路電壓比較器 測(cè)試方法的基本原理 GB/T 6798-1996

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比 檢測(cè)樣品：CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 測(cè)試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

檢測(cè)項(xiàng)：電源電壓抑制比 檢測(cè)樣品：運(yùn)算放大器 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路電壓比較器 測(cè)試方法的基本原理 GB/T 6798-1996

機(jī)構(gòu)所在地：湖北省武漢市 更多相關(guān)信息>>

貴州航天計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比KCMR 檢測(cè)樣品：A/D 、D/A轉(zhuǎn)換器 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成非線性電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器和模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法》 SJ/T 10818-1996

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比KCMR 檢測(cè)樣品：模擬開(kāi)關(guān) 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)測(cè)試方法的基本原理》GB/T 14028-1992

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比（誤差放大器）KCMR 檢測(cè)樣品：脈寬調(diào)制器 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成電路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脈寬調(diào)制器詳細(xì)規(guī)范》SJ 20294-1993

機(jī)構(gòu)所在地：貴州省貴陽(yáng)市 更多相關(guān)信息>>

北京市電子產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)中心

檢測(cè)項(xiàng)：直流電壓共模干擾抑制能力 檢測(cè)樣品：數(shù)字多用表 標(biāo)準(zhǔn)：數(shù)字多用表通用技術(shù)條件 GB/T 13978—2008

檢測(cè)項(xiàng)：直流電壓串模干擾抑制能力 檢測(cè)樣品：數(shù)字多用表 標(biāo)準(zhǔn)：數(shù)字多用表通用技術(shù)條件 GB/T 13978—2008

檢測(cè)項(xiàng)：部分項(xiàng)目 檢測(cè)樣品：電烤箱、面包烘烤器、華夫烙餅?zāi)＜邦愃朴猛酒骶?nbsp;標(biāo)準(zhǔn)：家用和類似用途電器的安全 電烤箱、面包烘烤器、華夫烙餅?zāi)＜邦愃朴猛酒骶叩奶厥庖?GB 4706.14—2008

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

西南技術(shù)物理研究所檢測(cè)校準(zhǔn)中心實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比 檢測(cè)樣品：時(shí)基電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路測(cè)試方法的基本原理 GB/T 14030-1992

檢測(cè)項(xiàng)：共模抑制比 檢測(cè)樣品：電子元器件 標(biāo)準(zhǔn)：微電路試驗(yàn)方法和程序GJB 548B-2005

檢測(cè)項(xiàng)：電源電壓抑制比 檢測(cè)樣品：時(shí)基電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路測(cè)試方法的基本原理 GB/T 14030-1992

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云南昆船電子設(shè)備有限公司藍(lán)海綜合實(shí)驗(yàn)中心

檢測(cè)項(xiàng)：輸出共模 抑制比 檢測(cè)樣品：TTL電路 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T 10735-1996 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測(cè)試方法的基本原理

檢測(cè)項(xiàng)：電源電壓 抑制比 檢測(cè)樣品：TTL電路 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T 10735-1996 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測(cè)試方法的基本原理

機(jī)構(gòu)所在地：云南省昆明市 更多相關(guān)信息>>