利用電子顯微鏡來(lái)分析研究物體的組織形貌、結(jié)構(gòu)特征，是現(xiàn)在科研實(shí)驗(yàn)最常用的方法之一。什么是高質(zhì)量的SEM圖片呢？

但在SEM電鏡測(cè)試過(guò)程中，但能否拍出好形貌不僅取決于樣品制作的好壞，實(shí)驗(yàn)測(cè)試過(guò)程中鍍膜處理、加速電壓、束斑變化、掃描速度、工作距離等參數(shù)對(duì)圖像的質(zhì)量影響也至關(guān)重要，這是一個(gè)綜合平衡的過(guò)程。因此在測(cè)試的過(guò)程中，針對(duì)不同的樣品性質(zhì)選擇合適的測(cè)試條件可以獲得高質(zhì)量的圖片，得到樣品的真是面貌。本文通過(guò)具體的SEM應(yīng)用實(shí)例對(duì)影響因素進(jìn)行解釋分析。